一、高低溫濕熱振動三綜合試驗箱介紹

專門為航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等試驗樣品進行溫度、濕度、振動三方面性能測試而專門設(shè)計，可選用多種升降方式對應(yīng)不同高度的振動試驗設(shè)備臺面，如液壓升降臺，龍門架提升等，*溫濕度控制器保證了設(shè)備在各方面都滿足國家試驗標(biāo)準(zhǔn)。

二、高低溫濕熱振動三綜合試驗箱執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法:

GBT10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件（溫度交變）

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗(IEC60068-2-78:2001)

GB/T2423.59-200電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度濕度振動三綜合

GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db:交變濕熱12h+12h循環(huán)(IEC60068-2-30:2005)

GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱(IEC60068-2-56)

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009Jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗

GJB150.4A-2009Jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗

三、技術(shù)參數(shù)：